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使用直流充電法測試靜電衰減靜電散電能力
日期：2014-02-18瀏覽：2168次
使用直流充電法測試靜電衰減Electrostatic Discharge Unit
德國KEINATH SEM3000采用充電法測試材料的靜電衰減特征, 可以測試整件服裝, 也可以測試小尺寸試樣。SEM3000內置高壓產生器先把被測試服裝充電 到1000V以上, 然后服裝接地, 儀器測試電壓衰減時間. SEM3000還可以測試人體行走靜電壓, 用于評估防靜電地板+防靜電鞋系統的靜電散電能力, 符合IEC 61340-4-5規范.
衰減測試開始電壓: 500-1000V（按50V增幅設置）
衰減測試結束電壓: 0-5V（按1V增幅設置）; 10-500V（按50V增幅設置）
衰減時間量程: 0-99.9秒
衰減時間分辨率: 0.1秒
衰減電壓分辨率: 1V
人體行走測試量程: 0-2000V
人體行走測試取樣率: 300毫秒
人體行走測試電壓分辨率: 儀器:1V; 軟件界面: 0.01-0.1V
讀數顯示: 2行16位LCD顯示屏
工作電源: 內置可充電池和外接電源適配器
設備外殼: 鋁板
設備重量: 1.5公斤
訂購編號 描述
SEM3000 包含以下物品
測試儀
導電袖筒, 2個
屏蔽測試線, 2條
接地線, 1條
PTFE絕緣衣架, 1個
絕緣夾鉗, 2個
電源適配器 (充電器), 1個
鋁質手提箱, 1個
校正書和說明書
選配
行走測試套件 UAC110數據輸出轉換器
BNC屏蔽測試線
金屬握柄
配套軟件
832鉗形電極 用于測試不規則物品靜電衰減
222008重錘電極 用于測試平面材料靜電衰減
222004絕緣板 用于放置試樣, 防止泄漏
產品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產源表，替代keithley
- 體積電阻率/表面電阻測試
- 穩科Wayne Kerr/MICROTEST
- 半導體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數/電導率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標準測試
- 電化學工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
- 電池/光伏/汽車充電樁測試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測試
- 體積電阻，電阻計，記錄儀
- 吉時利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛斯佩克ESPEC環境試驗箱
- 普源RIGOL/致遠ZLG/鼎陽SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協議測試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- ADCMT愛德萬ADVANTEST
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- 紅外熱像儀
- 美國BK PRECISION
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 賓德BINDER試驗箱
- 博勒飛Brookfield
- 梅特勒METTLER
- 愛色麗X-Rite/電色NIPPON
- 艾卡IKA
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 哈希HACH/萬通Metrohm
- 物料輪廓顏色缺料視覺篩選
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長盛/安柏
- 標準源/計量校準檢定設備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國產替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動/聲學測試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測試設備
- 長盛耐壓絕緣電阻安規測試
- 永磁軟磁磁通量測試
- 汽車電子標準波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質譜GC
- SHIMAZU島津
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