產(chǎn)品名稱:英國(guó)穩(wěn)科Wayne Kerr磁性元件分析儀
產(chǎn)品型號(hào):3255B
更新時(shí)間:2024-08-17
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
英國(guó)穩(wěn)科Wayne Kerr磁性元件分析儀頻率范圍 20Hz - 200kHz(3255BL)頻率范圍 20Hz - 500kHz(3255B)頻率范圍 20Hz - 1MHz(3255BQ)3260B頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
英國(guó)穩(wěn)科Wayne Kerr磁性元件分析儀
在線圈產(chǎn)品的檢測(cè)領(lǐng)域中,Wayne Kerr 一直是*的,各地也**WK產(chǎn)品的精準(zhǔn)度、功能性及其優(yōu)良的*,3255B電感分析儀亦承襲了以上所有優(yōu)勢(shì)。
運(yùn)用科技,結(jié)合所需的量測(cè)功能,3255B不但是一臺(tái)有高精準(zhǔn)度、高效率且多功能的產(chǎn)品,它優(yōu)惠的價(jià)格所提供的成本效益,更是市場(chǎng)上其他產(chǎn)品所*。
英國(guó)穩(wěn)科Wayne Kerr磁性元件分析儀技術(shù)規(guī)格參數(shù)指標(biāo)
頻率范圍 20Hz - 200kHz(3255BL)
頻率范圍 20Hz - 500kHz(3255B)
頻率范圍 20Hz - 1MHz(3255BQ)
3260B頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
0.1% 基本量測(cè)精確度
DC Bias(直流偏壓) zui高可到125A(Option)
可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias
多頻率自動(dòng)測(cè)試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
涵蓋各式測(cè)量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
人性化直覺式操作介面,簡(jiǎn)單易懂
測(cè)試結(jié)果列印
可透過(guò)IEEE488連線控制
量測(cè)參數(shù) L, Z, Rdc, C, Q, D, Rac and Angle
頻率范圍 20 Hz to 200kHz/ 3255BL ,500 kHz/3255B ,1MHz/3255BQ
量測(cè)電壓/電流 1 mV to 10 V 50 mA to 200 mA
直流偏壓 1 mA to 1 A
量測(cè)速度 4 (20/sec. Max)
量測(cè)范圍 R 0.01 mOhms - > 2GOhms
L 0.01 nH - > 100 H
C 5 fF - > 1 F
基本量測(cè)速度 L/Rac/Z/Cp ±0.25%
Q ±0.25 (Q+1/Q)%
D ±0025 (1+ D2)
Turns ratio ±0.25%
Rdc ±0.5%
使用電源 230 V AC ±10%
115 V AC ±10%
頻率 50 to 400Hz
耗電量 400VA maximum
顯示屏 高亮度 LCD
測(cè)試接點(diǎn) BNC 接頭 X 8
測(cè)試線 2線式 or 4線式(Kelvin)