產品中心您當前的位置：首頁 > 產品中心 > 體積電阻，電阻計，記錄儀 > LCR電橋/阻抗分析儀 > 日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536
基礎信息Product information
產品名稱：日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536
產品型號：
更新時間：2024-08-20
產品簡介：
專業為祖國用戶提供日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量服務，為上海華東地區一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。
產品特性Product characteristics
專業儀器設備與測試方案供應商——上海堅融實業有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅友（上海）測量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，為原安捷倫Agilent產品技術支持工程師-堅JET和吉時利KEITHLEY產品技術應用工程師-融YOO于2011年共同創辦的以技術支持為特色的代理貿易公司，志在破舊立新！*進口儀器設備大多廠家僅在國內設銷售點，技術支持薄弱或沒有，而代理經銷商也只專做銷售，不專業做售前技術答疑/測試方案，不專業做售后使用培訓/維修校準的空白。我們的技術銷售工程師均為本科以上學歷，且均有10年以上測試行業經驗，以我們*進*的經營理念，專業為祖國用戶提供儀器設備、測試方案、技術培訓、維修計量服務，為上海華東地區一家以技術為導向的儀器設備綜合服務商。
日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536性能特點
電解電容器的電容測量：
根據JIS標準測試電解電容器，電解電容的電容值在不同測試頻率下容值差異較大，因此需要根據實際回路的工作頻率來確認電容值。
陶瓷電容器的電容測量：
陶瓷電容器可分為，隨電壓變化的高介電常數型和溫度補償型。JIS標準針對兩種陶瓷電容特性有不同的測試要求。使用LCR測試儀IM3536的頻率范圍DC,4Hz~8MHz，內置電壓范圍10mV~5V，非常適合用于以上兩種不同要求的電容測試。
電感器（線圈）的電感測量：
電感器（線圈）所具備的電感和線圈的寄生電容中將LC共振現象稱為自諧振。 將產生這種自諧振的頻率稱為自諧振頻率。在評估線圈時請在比自諧振頻率更低的頻率下測量L和Q。
測量電感器的頻率特性：
LCR測試儀IM3536的測量頻率較廣，可以設置為DC、4 Hz～8 MHz，非常適合于評估連續改變頻率的測量。在計算機中安裝附件LCR采用應用軟件（CD-R），并通過接口（USB, GP-IB, RS-232C），可以進行掃頻功能，自動測量出的測量數值能夠以Excel或CSV格式進行保存。
寬廣范圍的測量條件下，非常適用于進行研發和評估實際使用條件的LCR測試儀
寬頻率范圍的LCR非常適用于研發和評估不同工作頻率范圍下壓電元器件和線圈等的諧振頻率。推薦用于評估壓電元件和線圈的共振頻率。若使用應用軟件※則能夠簡單的對頻率、電壓和電流進行掃描和測量。
可變頻率：DC, 4 Hz?8 MHz
電壓可變：10 mV?5 V（V模式/CV模式）
電流可變：10 μA?100 mA（CC模式）
※能夠使用計算機設置掃頻（或電壓、電流），并將測量數據以CSV或Excel格式保存。應用軟件請使用標配的CD進行安裝，或從HP中下載。
連續測量功能：希望以1kHz檢查電源電感的L-Q，還想檢查直流電阻（Rdc）。這時，1臺IM3536就可以在2種測試要求下進行連續高速測試。
LCR測試儀在自動化產線中測試可靠：測試線補償
線長補償設置可設置為：0 m / 1 m / 2 m / 4 m。測試線延長時也能保證精度。
LCR測試儀在自動化產線中測試可靠：接觸檢查功能
4端子測量時，預先設置判斷測試端與被測物的接觸狀態。 測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，并在超過所設閾值時發出報警信號。
日本日置LCR測試儀HIOKI IM3536基本參數
測量模式 LCR（單一條件下測量），連續測量（保存條件下連續測量）
測量參數Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
測量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數由Z規定）
顯示范圍 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
測量頻率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
測量信號電平 [V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
DC偏壓 發生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
輸出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
顯示 彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
功能 比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
接口 EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
電源 AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
體積及重量 330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件 電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應用光盤）×1
探頭·治具
使用9268-10或9269-10時需要外接的恒壓源、恒流源。
SMD測試治具IM9100直接連接型，底部有電極SMD用，DC～8MHz，可測量樣品尺寸：0402～1005（JIS）
4端子開爾文夾9140-10，DC~200kH，50 Ω，1 m長
測試治具9261-10，線長1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可測端口直徑：0.3~1.5mm
測試治具9262，DC～8 MHz, 直接連接型
SMD測試治具9263，直接連接型, DC～5 MHz 測試尺寸: 1mm～10.0mm
DC偏置電壓單元 9268-10，直接連接型，40Hz~8MHz，大外加電壓DC±40V
DC偏置電流單元 9269-10，直接連接型，40Hz~2MHz，大外加電流DC 2A(大外加電壓DC±40V)
4端子探頭 9500-10，線長1m，DC~200kHz，50Ω，可測導體直徑φ0.3mm~2mm
SMD測試治具9677，用于側面有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699，用于底部有電極的SMD DC~120MHz，測試樣品 尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
前端探針IM9901，用于更換L2001的前端的通用尺寸，L2001標配
前端探針IM9902，用于更換L2001的前端的小型尺寸
4端子探頭L2000，DC~8MHz，1m長
鑷形探頭L2001，線長73cm，DC～8MHz，50Ω，前端電極間隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
PC通訊
GP-IB連接線9151-02，2m長
RS-232C 連接線 9637，9pin-9pin，1.8m長
